EMCサイトにおけるエミッション計測と対策

(1) 放射エミッションの測定法(CEとRE)、(2) RE測定の特徴(電波暗室の構造に起因するREの特徴、10m法と3m法の相関)、(3) ノイズ発生要因の探索と対策技術についてご説明いたします。

発表者:株式会社トーキンEMCエンジニアリング EMCテクニカルセンター 原田 高志

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プリント回路基板におけるノイズ発生メカニズムとその抑制設計

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